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國標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測試儀耐電弧試驗儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計）電弱點試驗儀 50點耐壓測試儀

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HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗儀

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

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電氣絕緣材料漏電起痕試驗儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗項目。
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HCLD-III控制精密漏電起痕試驗儀測試儀器

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

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控制精密漏電起痕試驗儀測試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗項目。
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HCLD-III高壓漏電起痕試驗儀測試儀器

更新時間：2024-12-12

型號：HCLD-III

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高壓漏電起痕試驗儀測試儀器，是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗項目。
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Huace-300華測*絕緣材料表面體積電阻率測定機

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Huace-300型華測*絕緣材料表面體積電阻率測定機符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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Huace-300數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測定機

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Huace-300集成電路絕緣材料表面體積電阻率測定機

更新時間：2024-12-12

型號：Huace-300

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Huace-300重量輕絕緣材料表面體積電阻率測定機

更新時間：2024-06-05

型號：Huace-300

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重量輕絕緣材料表面體積電阻率測定機既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到3‰。同時儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。
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Huace-300體積小絕緣材料表面體積電阻率測定機

更新時間：2024-12-12

型號：Huace-300

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體積小絕緣材料表面體積電阻率測定機既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到3‰。同時儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。
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